Martensita superficial en la fase ß (Beta) de aleaciones con base Cobre

Abstract

Se ha llevado a cabo un estudio con microscopía electrónica para determinar el origen de ios extra-máximos de difracción provenientes de la fase ß (Beta), ordenada y metaestable de aleaciones con base Cu. Merced a un estudio sistemático de muestras de un mismo monocristal pero cortada en diferentes orientaciones cristalográficas, se establece que los extra-máximos de difracción surgen de una capa de martensita de aproximadamente 100A de espesor ubicada en ambas superficies de la lámina delgada.

An electron microscopic study has been carried out to determine the origin of extra maxima appearing in the electron diffraction patterns of ordered, metastable ß (Beta) phases in copper base alloys. Through a systematic study of samples prepared from the same single crystal but cut in different crystallographic orientations, it is established that the extra maxima arise owing to presence of approximately a 100A layer of martensite on either surface of the sample.