Comportamiento de los niveles de trampas durante el decaimiento de la corriente de un fotoconductor

Abstract

Suponiendo una forma exponencial para el decaimiento de la corriente en un fotoconductor, se estudia la contribución relativa del vaciamiento de distintos niveles de trampas en función del tiempo y de la excitación luminosa a que es sometido el material antes del decaimiento. Se obtiene una formulación analítica de la velocidad de vaciamiento, efectuando el cálculo para una serie de valores de los parámetros tiempo, energía de activación y coeficiente de captura del nivel, y posición inicial del cuasinivel de Fermi. Este tratamiento resulta especialmente conveniente para el caso de distribuciones cuasi-contínuas de trampas. En base a estos resultados, se discuten los límites de validez de la determinación de las energías de activación de trampas mediante el método del nivel de Fermi.