Publicación: Electrons and X rays.
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Tipo de recurso
ARTÍCULO CIENTÍFICO
Autores
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Promotor
Productor
Titular
Inventor
Tutor de tesis
Solicitante
Afiliación
Fil: Ipohorski, M. Comisión Nacional de Energía Atómica; Argentina
Sede CNEA
Fecha de publicación
Fecha de creación
Idioma
eng
Nivel de accesibilidad
Resumen
André Guinier described some recent developments in x-ray small-angle scattering (SAS) techniques for the study of defects in metáis. Subsequently, in June 1970, Gareth Thomas published a letter (page 19) in praise of the advantages of electrón microscopy over x-ray methods. Having recently worked in both of these fields I should like to contribute some observations to this argument that are based on my own experience.