Microanálisis dispersivo en energía en el microscopio electrónico de barrido
cnea.tipodocumento | PRESENTACIÓN A EVENTO | |
dc.contributor.author | Ipohorski, Miguel | |
dc.contributor.author | Marcone, Néstor Juan | |
dc.date.accessioned | 2025-09-02T17:01:37Z | |
dc.date.available | 2025-09-02T17:01:37Z | |
dc.date.issued | 1995 | |
dc.description.abstract | Cuando un haz de electrones de alta energía (10 a 50 keV) incide sobre la superficie de una muestra, da origen a una serie de señales. En el presente trabajo se analizará en particular el proceso de emisión de radiación X característica, y la información que se puede obtener a partir de su análisis, sobre la microestructura de la muestra. | |
dc.description.institutionalaffiliation | Fil: Ipohorski, Miguel Comisión Nacional de Energía Atómica; Argentina | |
dc.description.institutionalaffiliation | Marcone, Néstor Juan Comisión Nacional de Energía Atómica; Argentina | |
dc.format.extent | 25 p. | |
dc.format.extent | application/pdf | |
dc.identifier.cnea | PMM - 166/95 IT-43/95 | |
dc.identifier.uri | https://nuclea.cnea.gob.ar/handle/20.500.12553/7017 | |
dc.language.ISO639-3 | spa | |
dc.publisher | Comisión Nacional de Energía Atómica; Argentina | |
dc.publisher | Universidad Nacional de General San Martín; Argentina. Instituto de Tecnología | |
dc.publisher | Organización de los Estados Americanos | |
dc.relation.ispartof | Proyecto Multinacional de Materiales OEA-CNEA. Programa Regional de Desarrollo Científico y Tecnológico | |
dc.rights.accesslevel | info:eu-repo/semantics/openAccess | |
dc.rights.license | Creative Commons Atribución-NoComercial-CompartirIgual 4.0 Internacional | |
dc.rights.uri | https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/ | |
dc.subject.inis | MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA | |
dc.subject.inis | MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA POR BARRIDO | |
dc.subject.inis | DISPERSIÓN DE LUZ | |
dc.subject.inis | ANÁLISIS POR DISPERSIÓN DE RADIACIONES | |
dc.subject.inis | MICROESTRUCTURA | |
dc.subject.inis | ELECTRON MICROSCOPY | |
dc.subject.inis | SCANNING ELECTRON MICROSCOPY | |
dc.subject.inis | LIGHT SCATTERING | |
dc.subject.inis | RADIATION SCATTERING ANALYSIS | |
dc.subject.inis | MICROSTRUCTURE | |
dc.title | Microanálisis dispersivo en energía en el microscopio electrónico de barrido | |
dc.type | info:eu-repo/semantics/conference Object | |
dc.type | info:ar-repo/semantics/documento de conferencia | |
dc.type.version | info:eu-repo/semantics/publishedVersion |
Archivos
Bloque original
1 - 1 de 1
Cargando...
- Nombre:
- cies_pi_Caja007_08.pdf
- Tamaño:
- 3.22 MB
- Formato:
- Adobe Portable Document Format