Displacement Damage in CMOS Image Sensors After Thermal Neutron Irradiation

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cnea.localizacionCentro Atómico Bariloche
cnea.tipodocumentoARTÍCULO CIENTÍFICO
dc.contributor.authorAlcalde Bessia, F.
dc.contributor.authorPérez, M.
dc.contributor.authorSofo Haro, M.
dc.contributor.authorSidelnik, I.
dc.contributor.authorBlostein, J.J.
dc.contributor.authorSuárez, S.
dc.contributor.authorPérez, P.
dc.contributor.authorGómez Berisso, M.
dc.contributor.authorLipovetzky, J.
dc.contributor.cneaproductorGerencia Física. Departamento Materia Condensada. División Bajas Temperaturas
dc.date.accessioned2024-05-07T13:38:02Z
dc.date.available2024-05-07T13:38:02Z
dc.date.issued2018-10-05
dc.description.abstractIn this paper, CMOS image sensors were exposed to thermal neutrons observing an increase in the dark signal of many pixels. The effect was found to be similar to the damage caused by alpha particles irradiation. Rutherford backscattering spectroscopy (RBS) and SIMNRA simulation were used to confirm that the sensors contain boron in the insulation layers. The damage produced by thermal neutrons is explained as displacement damage caused by alpha particles and lithium-7 ions in the silicon active volume of the sensors after boron-10 thermal neutron capture.
dc.description.institutionalaffiliationFil.: Pérez, M. Comisión Nacional de Energía Atómica; Argentina
dc.description.institutionalaffiliationFil.: Alcalde Bessia, F. Comisión Nacional de Energía Atómica. Instituto Balseiro; Argentina; Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina
dc.description.institutionalaffiliationFil.: Sofo Haro, M. Comisión Nacional de Energía Atómica. Instituto Balseiro; Argentina; Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina
dc.description.institutionalaffiliationFil.: Sidelnik, I. Comisión Nacional de Energía Atómica. Instituto Balseiro; Argentina; Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina
dc.description.institutionalaffiliationFil.: Blostein, J.J. Comisión Nacional de Energía Atómica. Instituto Balseiro; Argentina; Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina
dc.description.institutionalaffiliationFil.: Gómez Berisso, M. Comisión Nacional de Energía Atómica. Instituto Balseiro; Argentina; Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina
dc.description.institutionalaffiliationFil.: Suárez, S. Comisión Nacional de Energía Atómica, Instituto Balseiro; Argentina; Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina
dc.description.institutionalaffiliationLipovetzky, J. Comisión Nacional de Energía Atómica. Instituto Balseiro; Argentina; Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina; International Center for Theoretical Physics: I, Trieste; Italia
dc.description.institutionalaffiliationexternalFil.: Pérez, P. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina
dc.description.recordsetsectionProducción científica
dc.description.recordsetseriesContribución a revistas científicas
dc.format.extent9 p.
dc.identifier.citationF. Alcalde Bessia et al., "Displacement Damage in CMOS Image Sensors After Thermal Neutron Irradiation," in IEEE Transactions on Nuclear Science, vol. 65, no. 11, pp. 2793-2801
dc.identifier.doihttp://dx.doi.org/10.1109/TNS.2018.2874191
dc.identifier.issn1558-1578
dc.identifier.issn0018-9499
dc.identifier.urihttps://nuclea.cnea.gob.ar/handle/20.500.12553/5492
dc.language.ISO639-3eng
dc.publisherIEEE
dc.relation.ispartofv. 65, n. 11
dc.relation.ispartofseriesIEEE Transactions on Nuclear Science
dc.rights.accesslevelinfo:eu-repo/semantics/openAccess
dc.rights.urihttps://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/
dc.subject.fordCIENCIAS NATURALES
dc.subject.fordCIENCIAS FÍSICAS
dc.subject.inisPARTICULAS ALFA
dc.subject.inisRADIACIONES IONIZANTES
dc.subject.inisNEUTRONES TERMICOS
dc.subject.keywordActive pixel sensors
dc.subject.keywordAlpha particles
dc.subject.keywordBorophosphosilicate-glass (BPSG)
dc.subject.keywordCMOS image sensors
dc.subject.keywordCMOS technology
dc.subject.keywordIonizing radiation
dc.subject.keywordNeutron radiation effects
dc.subject.keywordThermal neutron
dc.subject.keywordX-rays
dc.titleDisplacement Damage in CMOS Image Sensors After Thermal Neutron Irradiation
dc.typeARTÍCULO
dc.type.openaireinfo:eu-repo/semantics/article
dc.type.snrdinfo:ar-repo/semantics/artículo
dc.type.versioninfo:eu-repo/semantics/publishedVersion

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