Preparación y observación de réplicas para microscopía electrónica

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cnea.tipodocumentoINFORME TÉCNICO
dc.contributor.authorMarrapodi, M. R.
dc.contributor.authorIpohorski, Miguel
dc.contributor.cneaproductorComisión Nacional de Energía Atómica; Argentina. Área Investigación, Desarrollo y Servicios
dc.date.accessioned2025-09-03T14:51:21Z
dc.date.available2025-09-03T14:51:21Z
dc.date.issued1975
dc.description.abstractUna micrografia óptica permite la observación de rasgos topográficos de superficies de muestras masivas hasta una resolución máxima de unos 0.5 micrones, valor limitado por la longitud de onda de la luz visible. El conocimiento de la fuerza que ejerce un campo magnético sobre un electrón en movimiento permitió el diseño de las primeras lentes magnéticas.
dc.description.institutionalaffiliationFil: Marrapodi, M. R. Comisión Nacional de Energía Atómica; Argentina
dc.description.institutionalaffiliationIpohorski, Miguel Comisión Nacional de Energía Atómica; Argentina
dc.format.extent42 p.
dc.format.extentapplication/pdf
dc.identifier.cneaCNEA-NT 4/76
dc.identifier.urihttps://nuclea.cnea.gob.ar/handle/20.500.12553/7118
dc.language.ISO639-3spa
dc.publisherComisión Nacional de Energía Atómica; Argentina
dc.rights.accesslevelinfo:eu-repo/semantics/openAccess
dc.rights.licenseCreative Commons Atribución-NoComercial-CompartirIgual 4.0 Internacional
dc.rights.urihttps://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/
dc.subject.inisMICROSCOPÍA ELECTRÓNICA
dc.subject.inisRÉPLICAS
dc.subject.inisTÉCNICAS DE RÉPLICAS
dc.subject.inisMODELOS CRISTALINOS
dc.subject.inisESTRUCTURA CRISTALINA
dc.subject.inisELECTRON MICROSCOPY
dc.subject.inisREPLICAS
dc.subject.inisREPLICA TECHNIQUES
dc.subject.inisCRYSTAL MODELS
dc.subject.inisCRYSTAL STRUCTURE
dc.titlePreparación y observación de réplicas para microscopía electrónica
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/report
dc.typeinfo:ar-repo/semantics/informe técnico
dc.type.versioninfo:eu-repo/semantics/publishedVersion

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