Logotipo del repositorio

Electron Radiation Damage in a High Voltage Electron Microscope

cnea.tipodocumentoARTÍCULO CIENTÍFICO
dc.contributor.authorIpohorski, Miguel
dc.contributor.authorSpring, M. S.
dc.date.accessioned2026-09-01T13:55:29Z
dc.date.issued1969
dc.description.abstractThe factors affecting the nucleation and growth of electron-induced atomic displacement damage in high-purity copper (99.998%) are investigated using a high-voltage electron microscope (750 kV).
dc.description.institutionalaffiliationFil: Ipohorski, Miguel Comisión Nacional de Energía Atómica; Argentina
dc.description.institutionalaffiliationSpring, M. S. Comisión Nacional de Energía Atómica; Argentina
dc.description.institutionalaffiliationexternalFil: Springs, M.S. Cambridge University; Reino Unido
dc.format.extent937–941 p.
dc.format.extentapplication/pdf
dc.identifier.cnea09.69.04
dc.identifier.doihttps://doi.org/10.1080/14786436908228062
dc.identifier.urihttps://nuclea.cnea.gob.ar/handle/20.500.12553/11674
dc.language.ISO639-3eng
dc.publisherTaylor & Francis
dc.relation.ispartofPhilosophical Magazine, Vol. 20 N° 167, (1969)
dc.rights.accesslevelinfo:eu-repo/semantics/openAccess
dc.rights.licenseCreative Commons Atribución-NoComercial-CompartirIgual 4.0 Internacional
dc.rights.urihttps://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/
dc.subject.inisMICROSCOPIOS ELECTRONICOS
dc.subject.inisCOBRE
dc.subject.inisHACES ELECTRONICOS
dc.subject.inisJAULAS DE FARADAY
dc.subject.inisVACANTES
dc.subject.inisELECTRON MICROSCOPES
dc.subject.inisCOPPER
dc.subject.inisELECTRON BEAMS
dc.subject.inisFARADAY CAGES
dc.subject.inisVACANCIES
dc.titleElectron Radiation Damage in a High Voltage Electron Microscope
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/article
dc.typeinfo:ar-repo/semantics/artículo
dc.type.versioninfo:eu-repo/semantics/publishedVersion

Archivos

Bloque original

Mostrando 1 - 1 de 1
Cargando...
Miniatura
Nombre:
cies_cata_096904.pdf
Tamaño:
250.97 KB
Formato:
Adobe Portable Document Format

Colecciones