Una mirada al microscopio electrónico de barrido

cnea.tipodocumento	ARTÍCULO
dc.contributor	Pasquevich, Daniel Miguel
dc.contributor	Spurio, Stella Maris
dc.contributor	Corso, Hugo Luis
dc.contributor	Aprea, José Luis
dc.contributor	Duffó, Gustavo
dc.contributor.author	Ipohorsky, Miguel
dc.date.accessioned	2021-03-01T19:33:17Z
dc.date.issued	2011
dc.description.abstract	El Microscopio Electrónico del tipo de Barrido permite la observación directa de todo tipo de superficies, así como extender el rango de resolución de las imágenes hasta la escala nanométrica. En efecto, mientras que las observaciones ópticas están limitadas por la longitud de onda de la luz visible a una resolución del orden de una fracción de micrón y magnificaciones de unos 2.000x, una micrografía electrónica de barrido alcanza a resolver detalles de unos 4 nanometros con magnificaciones del orden de los 100.000 aumentos.
dc.description.institutionalaffiliation	Fil: Ipohorsky, Miguel. Comisión Nacional de Energía Atómica; Argentina.
dc.format.extent	51 - 52 p.
dc.identifier.isbn	978-9871323-12-8
dc.identifier.uri	https://nuclea.cnea.gob.ar/handle/20.500.12553/1162
dc.language.ISO639-3	spa
dc.publisher	Comisión Nacional de Energía Atómica. Instituto de Energía y Desarrollo Sustentable
dc.relation.ispartof	Hojitas de Conocimiento. Materiales ; n°4
dc.rights.license	https://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/2.5/ar/
dc.subject.keyword	MATERIALES
dc.title	Una mirada al microscopio electrónico de barrido
dc.type	ARTÍCULO DE DIVULGACIÓN
dc.type.version	Versión publicada

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