Mediciones I-V y C-V sobre detectores de barrera superficial para partículas cargadas

Abstract

El presente trabajo describe algunas mediciones preliminares sobre detectores de barrera superficial para partículas cargadas, con la finalidad de implementar el esquema de control de calidad comúnmente usado en el proceso de fabricación a escala industrial de estos dispositivos. Se ha realizado un estudio de las características I-V y C-V para un gran número de detectores, completando además en cada caso la información con mediciones de resolución y defecto de altura de pulso para alfas de 5.48 MeV. El método C-V se utiliza, en nuestro caso, para determinar la resistividad del cristal y el espesor de la zona de vaciado, a partir de la medición de la capacidad del detector como función de la polarización, utilizando un capacímetro tipo puente marca Boomton Modelo 72B, con rango de medición entre 0 y 3000 p Especificado para trabajar con factores de mérito > 1.