Microanálisis dispersivo en energía en el microscopio electrónico de barrido

cnea.tipodocumentoINFORME TÉCNICO
dc.contributor.authorIpohorski, Miguel
dc.contributor.authorMarcone, Néstor Juan
dc.date.accessioned2025-09-03T14:51:22Z
dc.date.available2025-09-03T14:51:22Z
dc.date.issued1981
dc.description.abstractCuando un haz de electrones de alta energía (10 a 50KeV) incide sobre la superficie de una muestra, da origen a la emisión de rayos X mediante dos procesos. Por un lado, los electrones del haz son frenados al aproximarse a la nube electrónica negativa de los átomos de la muestra, y parte de su energía es emitida como radiación electromagnética de longitud de onda muy corta, en el rango correspondiente a los rayos X.
dc.description.institutionalaffiliationFil: Ipohorski, Miguel Comisión Nacional de Energía Atómica; Argentina
dc.description.institutionalaffiliationMarcone, Néstor Juan Comisión Nacional de Energía Atómica; Argentina
dc.format.extent22 p.
dc.format.extentapplication/pdf
dc.identifier.cneaCNEA-AC 1/81
dc.identifier.urihttps://nuclea.cnea.gob.ar/handle/20.500.12553/7119
dc.language.ISO639-3spa
dc.publisherComisión Nacional de Energía Atómica; Argentina
dc.rights.accesslevelinfo:eu-repo/semantics/openAccess
dc.rights.licenseCreative Commons Atribución-NoComercial-CompartirIgual 4.0 Internacional
dc.rights.urihttps://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/
dc.subject.inisMICROSCOPÍA ELECTRÓNICA
dc.subject.inisMICROSCOPÍA ELECTRÓNICA POR BARRIDO
dc.subject.inisDISPERSIÓN DE LUZ
dc.subject.inisENERGÍA
dc.subject.inisFOTONES
dc.subject.inisELECTRON MICROSCOPY
dc.subject.inisSCANNING ELECTRON MICROSCOPY
dc.subject.inisLIGHT SCATTERING
dc.subject.inisENERGY
dc.subject.inisPHOTONS
dc.titleMicroanálisis dispersivo en energía en el microscopio electrónico de barrido
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/report
dc.typeinfo:ar-repo/semantics/informe técnico
dc.type.versioninfo:eu-repo/semantics/publishedVersion

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