Defecto por redes cristalinas

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cnea.tipodocumentoINFORME
dc.contributor.authorLaciana, C. E.
dc.contributor.authorMonti, A. M.
dc.contributor.authorTome,C. N.
dc.contributor.authorSavino, E. J.
dc.date.accessioned2022-10-20T18:14:02Z
dc.date.issued1978
dc.description.abstractSe resumen los métodos de función de Creen y de simulación por computadora para el cálculo de la estructura de defectos en redes discretas. Se discuten las ventajas y limitaciones de cada método. Se calcula la configuración de vacancias e intersticiales en redes hexagonales compactas, con especial énfasis en la simetría del defecto. Utilizando el método de función de Creen se calcula el desplazamiento de los vecinos cercanos a una impureza en un sitio octaedral de la red cúbica centrada en el cuerpo.
dc.description.institutionalaffiliationFil: Laciana, C. E. Comisión Nacional de Energía Atómica; Argentina
dc.description.institutionalaffiliationMonti, A. M. Comisión Nacional de Energía Atómica; Argentina
dc.description.institutionalaffiliationTome,C. N. Comisión Nacional de Energía Atómica; Argentina
dc.description.institutionalaffiliationSavino, E. J. Comisión Nacional de Energía Atómica; Argentina
dc.description.institutionalaffiliationComisión Nacional de Energía Atómica; Argentina
dc.format.extent24 p.
dc.identifier.cneaCNEA-NT 7/78
dc.identifier.urihttps://nuclea.cnea.gob.ar/handle/20.500.12553/2215
dc.language.ISO639-3esp
dc.publisherGerencia de desarrollo. Centro Atómico Bariloche. Comisión Nacional de Energía Atómica (Argentina)
dc.rights.licenseinfo:eu-repo/semantics/openAccess
dc.subject.keywordREDES CRISTALINAS
dc.subject.keywordDEFECTOS CRISTALINOS
dc.subject.keywordELECTRIC DIPOLES
dc.subject.keywordINTERSTITIALS
dc.titleDefecto por redes cristalinas
dc.typeINFORME TÉCNICO
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