Defecto por redes cristalinas
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Fecha
1978
Tipo de recurso
INFORME
Autor / Creador principal
Responsable institucional (informe)
Compilador
Diseñador
Contacto (informe)
Promotor
Productor
Titular
Inventor
Tutor de tesis
Solicitante
Afiliación
Fil: Laciana, C. E. Comisión Nacional de Energía Atómica; Argentina
Monti, A. M. Comisión Nacional de Energía Atómica; Argentina
Tome,C. N. Comisión Nacional de Energía Atómica; Argentina
Savino, E. J. Comisión Nacional de Energía Atómica; Argentina
Comisión Nacional de Energía Atómica; Argentina
Sede CNEA
Fecha de publicación
1978
Fecha de creación
Idioma
esp
Nivel de accesibilidad
Condiciones de uso
Versión
Versión publicada
Identificador CNEA
CNEA-NT 7/78
Identificador (documentos oficiales)
ISBN
ISSN
Cobertura espacial
Cobertura temporal
Materia INIS
Palabras clave
REDES CRISTALINAS
DEFECTOS CRISTALINOS
ELECTRIC DIPOLES
INTERSTITIALS
DEFECTOS CRISTALINOS
ELECTRIC DIPOLES
INTERSTITIALS
Macro-area temática
Formato (extensión)
24 p.
Editor
Gerencia de desarrollo. Centro Atómico Bariloche. Comisión Nacional de Energía Atómica (Argentina)
Es parte de
Es parte la serie
Agrupamiento documental - Sección
Agrupamiento documental - Serie
Institución académica
Titulación
Fecha de resolución
Fecha de presentación de solicitud
Resolución
Estado
Prioridad - fecha
Estado de licenciamiento
Nº de prioridad
Nº de patente
Nº de solicitud
País de registro
Nivel de madurez de la tecnología
Campo de aplicación
Campo de desarrollo
Resumen
Se resumen los métodos de función de Creen y de simulación por computadora para el cálculo de la estructura de defectos en redes discretas. Se discuten las ventajas y limitaciones de cada método. Se calcula la configuración de vacancias e intersticiales en redes hexagonales compactas, con especial énfasis en la simetría del defecto. Utilizando el método de función de Creen se calcula el desplazamiento de los vecinos cercanos a una impureza en un sitio octaedral de la red cúbica centrada en el cuerpo.