Microcantidades de hafnio en circonio en filmes delgados por fluorescencia de Rayos X

Abstract

Debido a la importancia del Zr y del Hf en la industria nuclear se hace cada vez más necesario el desarrollo de métodos precisos para la determinación de vestigios de Hf en Zr. Se desarrolló un método de precipitación en medio amoniacal, obteniéndose un filme delgado en el que se eliminan o minimizan los efectos de matriz. El ámbito de concentración estudiado fue de 5 a 70 microgramos de Hf en presencia de 5 miligramos de Zr. Las radiaciones Hf Lαy Hf Lβse excitan con un tubo con ánodo de tungsteno 17 kV - 25 mA y 50 kV - 25 mA respectivamente utilizando la dispersión del tubo como estándar interno. Se siguió el criterio de Bartlett para el análisis de la regresión. El límite de determinación se fijó en 5 ± 4 µg Hf para un nivel de confianza de 95%.