Desarrollo de películas delgadas nanoestructuradas para su implementación como material antirreflectante

Abstract

El presente trabajo tiene como objetivo implementar mejoras en la fabricación de películas nanoestructuradas de TiO2 por el método anodizado electroquímico con el fin de ser utilizado como material antirreflectante. Una vez fabricadas las películas antirreflectantes, el principal objetivo será analizar la influencia del proceso de anodizado en las propiedades ópticas y la caracterización morfológica de las mismas. En donde se estudiarán tres tipos de proceso de anodizado: potencial constante, creciente y decreciente. También se evaluará la influencia de la solución empleada para realizar los anodizados, los electrolitos utilizados serán glicerina y etilenglicol ambos con un 0,6% en peso de NH4F. Para caracterizar las propiedades ópticas y características morfológicas de las películas antitrreflectantes se utilizará elipsometría espectral. Para ello se propondrán dos modelos: una capa porosa de TiO2 y otro con dos capas una densa y otra porosa de TiO2. Posteriormente se utilizarán los parámetros obtenidos del modelo más adecuado para estimar la reflectividad de las películas fabricadas. También se analizará cuáles son los parámetros óptimos para lograr minimizar la reflectividad de las películas.The present work aims to implement improvements in the manufacture of TiO2 nanostructured films by the electrochemical anodization method for its use as an antireflective material. Once the anti-reflective films have been manufactured, the main objective will be to analyze the influence of the anodization process on the optical properties and their morphological characterization. Where three types of anodizing process will be studied: constant, increasing and decreasing potential. The influence of the solution used to carry out the anodizing will also be evaluated, the electrolytes used will be glycerin and ethylene glycol, both with 0.6% by weight of NH4F. Spectral ellipsometry will be used to characterize the optical properties and morphological characteristics of the anti reflective films. For this, two models will be proposed: a porous layer of TiO2 and another with two layers, one dense and the other porous of TiO2. Subsequently, the parameters obtained from the most suitable model will be used to estimate the reflectivity of the manufactured films. Optimal parameters will also be analyzed to minimize the reflectivity of the films.