Publicación: Size dependence of the Superconducting critical temperature and fields of Nb/Al multilayers
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ARTÍCULO CIENTÍFICO
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Inventor
Tutor de tesis
Solicitante
Afiliación
Fil: Guimpel, J. Comisión Nacional de Energía Atómica. Instituto Balseiro; Argentina; Universidad Nacional de Cuyo; Argentina
Fil: Fink, H.J. University of California. Department of Electrical Engineering; Estados Unidos
Fil: de la Cruz, M.E. Comisión Nacional de Energía Atómica. Instituto Balseiro; Argentina; Universidad Nacional de Cuyo; Argentina
Fil: Laborde, O. Centre National de la Recherche Scientifique. Centre de Recherches sur les Très Basses Températures; Francia
Fil: de la Cruz, F. Comisión Nacional de Energía Atómica. Instituto Balseiro; Argentina; Universidad Nacional de Cuyo; Argentina
Fil: Villegier, J.C. Centre d'Etudes Nucleaires de Grenoble. Laboratoire d'Electronique et de Technologic de l'Informatique; Francia
Sede CNEA
Centro Atómico Bariloche
Fecha de publicación
Fecha de creación
Idioma
eng
Nivel de accesibilidad
Resumen
The critical temperatureTc of Nb/Al multilayers decreases as the total sample thickness dT is decreased while the thickness of each Nb and Al layer is kept constant. To understand this behavior, models based on the proximity effect and on weak two-dimensional (2D) localization are employed. The latter uses a characteristic length, the thermal diffusion length, in relation to dT to obtain 2D behavior and leads to a reasonable explanation of Tc(dT). It is also found that the slope atTc(dT) of the critical magnetic field perpendicular to the layers is independent of dT when the Nb and Al layer thicknesses are kept constant. The angular dependence of the critical field is also measured.
Descripción
Palabras clave
Citación
Guimpel, J., de la Cruz, M.E., de la Cruz, F. et al. Size dependence of the superconducting critical temperature and fields of Nb/Al multilayers. J Low Temp Phys 63, 151–165 (1986)