Determinación de la naturaleza de lazos de dislocaciones utilizando técnicas de microscopía electrónica

Abstract

En el presente trabajo se detalla la puesta a punto de una técnica que permite determinar la naturaleza intersticial o vacancia de los lazos cerrados de dislocaciones, como los que se observan en materiales irradiados, templados o deformados. El método es válido para el análisis de lazos resueltos como tales en las respectivas micrografías electrónicas, es decir aquellos cuyos diámetros sean superiores a unos 500 Á. La técnica se basa en el estudio del contraste que presentan los lazos bajo distintas condiciones de observación en el microscopio electrónico. La variación de este contraste es apreciable en algunos casos, y la identificación de lazos de intersticiales o vacancias puede ser relativamente fácil. Pero en otras ocasiones, la diferencia entre ambos tipos de lazos reside solamente en el sentido de su vector de Burger, y son necesarias experiencias muy precisas para poder detectar las pequeñas variaciones de las imágenes electrónicas correspondientes. Tal es el caso de los lazos de dislocaciones que aparecen en monocristales de A1 irradiados con neutrones rápidos en un reactor, sobre los cuales se han efectuado las observaciones detalladas en el presente trabajo.