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Evaluación de patrimonio cultural utilizando difracción de rayos X en diferentes configuraciones

cnea.tipodocumentoPRESENTACIÓN A EVENTO
dc.contributor.authorFuertes, María Cecilia
dc.contributor.authorPalamarczuk, Valeria
dc.contributor.authorLamas, Diego Germán
dc.contributor.authorHuck Iriart, Cristián
dc.date.accessioned2025-12-11T23:23:12Z
dc.date.available2025-12-11T23:23:12Z
dc.date.issued2023
dc.description.abstractEl uso de técnicas de caracterización no destructivas o mínimamente invasivas en la evaluación del patrimonio cultural es fundamental para obtener información sobre la composición de los objetos preservando su integridad. Entre ellas, la difracción de rayos X (DRX) permite determinar los compuestos cristalinos presentes en los objetos, empleando diversas configuraciones experimentales. La elección de la configuración más adecuada dependerá de las particularidades del objeto, como su forma, tamaño y la viabilidad de su traslado al laboratorio, así como la posibilidad de obtener micro-muestras a partir de los mismos [1,2]. En este trabajo se presenta la evaluación de pigmentos y piezas arqueológicas en tres configuraciones: DRX de pieza entera con geometría Bragg-Brentano, DRX de pieza entera con incidencia rasante, y micro-DRX de polvos. Se analizaron pigmentos superpuestos en fragmentos cerámicos de estilos San José y Santa María del valle de Yocavil, Catamarca, Argentina. Las dos primeras configuraciones se utilizaron para medir fragmentos con un equipo PANalytical, modelo Empyrean, con radiación CuKα, en geometría Bragg-Brentano o con incidencia fija a 1°, entre 5 y 60°2Ɵ. La micro-DRX de polvos se realizó con un equipo XEUSS 2.0 (XENOCS) con micro-fuente de Cu, acoplado a dos detectores bidimensionales sincrónicos Pilatus (Dectris), en geometría de haz paralelo con baja divergencia. Se registraron patrones entre 5 y 45º2Ɵ, por transmisión, de ca. 5-10 mg de pigmentos raspado de la superficie de los fragmentos con un bisturí.Se concluye que las tres configuraciones presentan aspectos positivos que deben ser considerados al momento de elegir la más adecuada según las características de cada muestra. La aplicación de la técnica in situ es posible en muestras que puedan transportarse al laboratorio y posean formas y tamaños adecuados para su medición. La configuración en geometría Bragg-Brentano informa las fases cristalinas presentes en las capas de pigmentos superficiales y en la pasta cerámica de manera conjunta, lo cual complejiza su interpretación. La incidencia fija a bajo ángulo es útil para evaluar capas de aplicaciones pigmentarias superficiales de manera independiente, pero las superficies irregulares o curvadas dificultan las mediciones. La micro-DRX, si bien es una técnica micro-destructiva, es útil para el estudio de piezas que no pueden trasladarse al laboratorio. Además, pueden evaluarse capas superficiales y pequeñas secciones de las piezas de manera independiente, simplificando la interpretación de los resultados.
dc.description.institutionalaffiliationFil: Fuertes, María Cecilia. Consejo Nacional de Investigaciones Cientificas y Tecnicas. Oficina de Coordinacion Administrativa Ciudad Universitaria. Unidad Ejecutora Instituto de Nanociencia y Nanotecnologia. Unidad Ejecutora Instituto de Nanociencia y Nanotecnologia - Nodo Constituyentes | Comision Nacional de Energia Atomica. Unidad Ejecutora Instituto de Nanociencia y Nanotecnologia. Unidad Ejecutora Instituto de Nanociencia y Nanotecnologia - Nodo Constituyentes.; Argentina
dc.description.institutionalaffiliationFil: Palamarczuk, Valeria. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Oficina de Coordinación Administrativa Saavedra 15. Instituto de las Culturas. Universidad de Buenos Aires. Instituto de las Culturas; Argentina
dc.description.institutionalaffiliationFil: Lamas, Diego Germán. Consejo Nacional de Investigaciones Cientificas y Tecnicas. Instituto de Tecnologias Emergentes y Ciencias Aplicadas. - Universidad Nacional de San Martin. Instituto de Tecnologias Emergentes y Ciencias Aplicadas.; Argentina
dc.description.institutionalaffiliationFil: Huck Iriart, Cristián. Consejo Nacional de Investigaciones Cientificas y Tecnicas. Instituto de Tecnologias Emergentes y Ciencias Aplicadas. - Universidad Nacional de San Martin. Instituto de Tecnologias Emergentes y Ciencias Aplicadas.; Argentina
dc.identifier.urihttps://nuclea.cnea.gob.ar/handle/20.500.12553/8143
dc.publisherComisión Nacional de Energía Atómica
dc.relationinfo:eu-repo/semantics/reference/hdl/11336/224890
dc.relationinfo:eu-repo/semantics/altIdentifier/url/https://tn-2023.sciencesconf.org/
dc.relationinfo:eu-repo/semantics/altIdentifier/url/https://tn-2023.sciencesconf.org/data/pages/Libro_de_Resumenes_TN2023_cuerpo.pdf
dc.rights.licenseinfo:eu-repo/semantics/openAccess
dc.rights.licensehttps://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar/
dc.subjectDIFRACCIÓN DE RAYOS X
dc.subjectENGOBES
dc.subjectPINTURAS
dc.subjectESTUDIOS NO DESTRUCTIVOS
dc.subjectArqueología
dc.subjectHistoria y Arqueología
dc.subjectHUMANIDADES
dc.subjectCerámicos
dc.subjectIngeniería de los Materiales
dc.subjectINGENIERÍAS Y TECNOLOGÍAS
dc.titleEvaluación de patrimonio cultural utilizando difracción de rayos X en diferentes configuraciones
dc.typePRESENTACIÓN A EVENTO
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