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Calibración de los aumentos y las rotaciones relativas en el microscopio electrónico Philips EM 300

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cnea.tipodocumentoINFORME TÉCNICO
dc.contributor.authorIpohorski, Miguel
dc.contributor.cneaproductorComisión Nacional de Energía Atómica; Argentina. Departamento de Metalurgia
dc.contributor.cneaproductorOrganización de los Estados Americanos. Programa Multinacional de Metalurgia. Programa Regional de Ciencia y TecnoIogía
dc.date.accessioned2026-09-01T13:29:05Z
dc.date.issued1971
dc.description.abstractEl documento presenta la metodología de calibración de aumentos y rotaciones relativas para un microscopio electrónico Philips EM 300 utilizado en el Departamento de Metalurgia de la CNEA. Se describe el uso de una réplica de carbono de una red de difracción óptica para determinar los aumentos en las escalas "M" y "S.A.".
dc.description.institutionalaffiliationFil: Ipohorski, Miguel Comisión Nacional de Energía Atómica; Argentina
dc.format.extent18 p.
dc.format.extentapplication/pdf
dc.identifier.cnea09.71.06
dc.identifier.cneaPMM/A-64
dc.identifier.urihttps://nuclea.cnea.gob.ar/handle/20.500.12553/11558
dc.language.ISO639-3spa
dc.publisherComisión Nacional de Energía Atómica; Argentina. Departamento de Metalurgia
dc.rights.accesslevelinfo:eu-repo/semantics/openAccess
dc.rights.licenseCreative Commons Atribución-NoComercial-CompartirIgual 4.0 Internacional
dc.rights.urihttps://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/
dc.subject.inisMICROSCOPIA
dc.subject.inisMICROSCOPIA ELECTRONICA
dc.subject.inisMETALURGIA
dc.subject.inisLENTES ELECTROMAGNETICAS
dc.subject.inisDIFRACCION (ELECTRON)
dc.subject.inisMICROSCOPY
dc.subject.inisELECTRON MICROSCOPY
dc.subject.inisMETALLURGY
dc.subject.inisELECTROMAGNETIC LENSES
dc.subject.inisDIFFRACTION (ELECTRON)
dc.titleCalibración de los aumentos y las rotaciones relativas en el microscopio electrónico Philips EM 300
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/report
dc.typeinfo:ar-repo/semantics/informe técnico
dc.type.versioninfo:eu-repo/semantics/publishedVersion

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