Problemas típicos de microscopía electrónica
| cnea.tipodocumento | INFORME TÉCNICO | |
| dc.contributor.author | Pochettino, Alberto A. | |
| dc.contributor.author | Ipohorski, Miguel | |
| dc.contributor.cneaproductor | Comisión Nacional de Energía Atómica; Argentina. Programa Multinacional de Metalurgia (Programa Regional de Desarrollo Científico y Tencológico - OEA) | |
| dc.date.accessioned | 2026-09-01T13:29:10Z | |
| dc.date.issued | 1974 | |
| dc.description.abstract | El presente trabajo, complemento de los apuntes de Microscopia Electrónica del Décimo Curso Panamericano de Metalurgia, contiene una serie de problemas típicos que aparecen en un laboratorio de metalurgia. Incluye micrografías de defectos cristalinos, como dislocaciones, fallas de apilamiento, cavidades, los diagramas de difracción de las estructuras metálicas más comunes, criterios para su identificación y la información que de ellos puede obtenerse, y un ejemplo de réplica de la superficie de un acero. Todas las micrografías y diagramas de difracción fueron obtenidas en el laboratorio de Microscopía Electrónica por personal del Departamento de Metalurgia, utilizando el microscopio Philips EM 300. | |
| dc.description.institutionalaffiliation | Fil: Pochettino, Alberto A. Comisión Nacional de Energía Atómica; Argentina | |
| dc.description.institutionalaffiliation | Ipohorski, Miguel Comisión Nacional de Energía Atómica; Argentina | |
| dc.format.extent | 66 p. | |
| dc.format.extent | application/pdf | |
| dc.identifier.cnea | 09.74.08 | |
| dc.identifier.cnea | PMM/A-157 | |
| dc.identifier.uri | https://nuclea.cnea.gob.ar/handle/20.500.12553/11577 | |
| dc.language.ISO639-3 | spa | |
| dc.publisher | Comisión Nacional de Energía Atómica; Argentina | |
| dc.publisher | Organización de los Estados Americanos | |
| dc.rights.accesslevel | info:eu-repo/semantics/openAccess | |
| dc.rights.license | Creative Commons Atribución-NoComercial-CompartirIgual 4.0 Internacional | |
| dc.rights.uri | https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/ | |
| dc.subject.inis | MICROSCOPIA ELECTRONICA | |
| dc.subject.inis | DIFRACCION ELECTRONICA | |
| dc.subject.inis | LINEAS DE KIKUCHI | |
| dc.subject.inis | DISLOCACIONES | |
| dc.subject.inis | ELECTRON MICROSCOPY | |
| dc.subject.inis | ELECTRON DIFFRACTION | |
| dc.subject.inis | KIKUCHI LINES | |
| dc.subject.inis | DISLOCATIONS | |
| dc.title | Problemas típicos de microscopía electrónica | |
| dc.type | info:eu-repo/semantics/report | |
| dc.type | info:ar-repo/semantics/informe técnico | |
| dc.type.version | info:eu-repo/semantics/publishedVersion |
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