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Una mirada al microscopio electrónico de barrido

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ARTÍCULO DE DIVULGACIÓN

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Fil: Ipohorsky, Miguel. Comisión Nacional de Energía Atómica; Argentina.

Sede CNEA

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Idioma

spa

Nivel de accesibilidad

Proyectos de investigación

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Número de la revista

Resumen

El Microscopio Electrónico del tipo de Barrido permite la observación directa de todo tipo de superficies, así como extender el rango de resolución de las imágenes hasta la escala nanométrica. En efecto, mientras que las observaciones ópticas están limitadas por la longitud de onda de la luz visible a una resolución del orden de una fracción de micrón y magnificaciones de unos 2.000x, una micrografía electrónica de barrido alcanza a resolver detalles de unos 4 nanometros con magnificaciones del orden de los 100.000 aumentos.

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