Publicación: Una mirada al microscopio electrónico de barrido
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Fecha
Tipo de recurso
ARTÍCULO DE DIVULGACIÓN
Autores
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Promotor
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Titular
Inventor
Tutor de tesis
Solicitante
Afiliación
Fil: Ipohorsky, Miguel. Comisión Nacional de Energía Atómica; Argentina.
Sede CNEA
Fecha de publicación
Fecha de creación
Idioma
spa
Nivel de accesibilidad
Resumen
El Microscopio Electrónico del tipo de Barrido permite la observación directa de todo tipo de superficies, así como extender el rango de resolución de las imágenes hasta la escala nanométrica. En efecto, mientras que las observaciones ópticas están limitadas por la longitud de onda de la luz visible a una resolución del orden de una fracción de micrón y magnificaciones de unos 2.000x, una micrografía electrónica de barrido alcanza a resolver detalles de unos 4 nanometros con magnificaciones del orden de los 100.000 aumentos.