Examinando por Autor "Tome,C. N."

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    ÍtemAcceso Abierto
    Defecto por redes cristalinas
    (Gerencia de desarrollo. Centro Atómico Bariloche. Comisión Nacional de Energía Atómica (Argentina), 1978) Laciana, C. E.; Monti, A. M.; Tome,C. N.; Savino, E. J.
    Se resumen los métodos de función de Creen y de simulación por computadora para el cálculo de la estructura de defectos en redes discretas. Se discuten las ventajas y limitaciones de cada método. Se calcula la configuración de vacancias e intersticiales en redes hexagonales compactas, con especial énfasis en la simetría del defecto. Utilizando el método de función de Creen se calcula el desplazamiento de los vecinos cercanos a una impureza en un sitio octaedral de la red cúbica centrada en el cuerpo.